Strumentazione TEM


Philips/FEI CM 100 Microscopio a Trasmissione Elettronica

Specifiche:

  • filamento al tungsteno, 40 - 100kV
  • supporto con goniometro single-tilt
  • MegaView® G2, telecamera ad alta risoluzione e velocità


TEM
Batteri osservati al TEM
Cristalli osservati al TEM
Nanoparticelle sferiche osservate al TEM
Fogli di Graphene
Dettagli di un singolo foglietto di Graphene